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JEOL Microscope électronique à balayage JCM-6000

JEOL

Microscope électronique à balayage JCM-6000

À partir de
20 445 ,00 €

Le système permet l’acquisition d’images via des modes adaptés aux caractéristiques des échantillons. Le mode vide élevé favorise la visualisation de détails fins et de reliefs complexes, tandis que le mode vide faible autorise l’observation d’échanti

JEOL JCM 6000 Neoscope Versatile Benchtop SEM Without Control/Touch Panel Le système permet l’acquisition d’images via des modes adaptés aux caractéristiques des échantillons. Le mode vide élevé favorise la visualisation de détails fins et de reliefs complexes, tandis que le mode vide faible autorise l’observation d’échantillons non conducteurs sans préparation spécifique. L’utilisateur peut exploiter différents types de signaux électroniques pour analyser la morphologie et les variations de composition, facilitant l’étude des tissus, particules ou surfaces en contexte médical et analytique. L’équipement intègre des fonctions automatisées couvrant les réglages essentiels de l’imagerie. Une interface tactile guide l’opérateur dans les différentes étapes, permettant un accès rapide aux paramètres et aux images enregistrées. Les outils de comparaison visuelle et de gestion des acquisitions permettent d’optimiser l’interprétation des résultats et de standardiser les observations, améliorant ainsi l’efficacité des workflows en laboratoire. Le dispositif prend en charge des analyses chimiques grâce à un module dédié permettant l’identification et la répartition des éléments présents dans l’échantillon. Les fonctions de cartographie et d’analyse ponctuelle offrent une visualisation précise des distributions. Des outils de mesure intégrés permettent de quantifier distances et angles directement sur les images, avec export des données pour exploitation ultérieure, contribuant à une analyse rigoureuse des échantillons.
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JEOL JCM 6000 Neoscope Versatile Benchtop SEM Without Control/Touch Panel Le système permet l’acquisition d’images via des modes adaptés aux caractéristiques des échantillons. Le mode vide élevé favorise la visualisation de détails fins et de reliefs complexes, tandis que le mode vide faible autorise l’observation d’échantillons non conducteurs sans préparation spécifique. L’utilisateur peut exploiter différents types de signaux électroniques pour analyser la morphologie et les variations de composition, facilitant l’étude des tissus, particules ou surfaces en contexte médical et analytique. L’équipement intègre des fonctions automatisées couvrant les réglages essentiels de l’imagerie. Une interface tactile guide l’opérateur dans les différentes étapes, permettant un accès rapide aux paramètres et aux images enregistrées. Les outils de comparaison visuelle et de gestion des acquisitions permettent d’optimiser l’interprétation des résultats et de standardiser les observations, améliorant ainsi l’efficacité des workflows en laboratoire. Le dispositif prend en charge des analyses chimiques grâce à un module dédié permettant l’identification et la répartition des éléments présents dans l’échantillon. Les fonctions de cartographie et d’analyse ponctuelle offrent une visualisation précise des distributions. Des outils de mesure intégrés permettent de quantifier distances et angles directement sur les images, avec export des données pour exploitation ultérieure, contribuant à une analyse rigoureuse des échantillons.

Modes : vide élevé et vide faible Automatisation : réglages et acquisition en une action Interface : écran tactile avec navigation guidée Comparaison : affichage simultané des images Mesure : distances et angles sur image Analyse : cartographie et identification des éléments
Marque :
JEOL
Nom :
Microscope électronique à balayage JCM-6000
Grossissement maximal :
x60 000 (SEI)
Tension :
5 kV, 10 kV, 15 kV
Canon :
filament à cartouche intégré
Plateau :
déplacement X/Y 35 mm
Échantillon :
diamètre 70 mm, hauteur 50 mm
Formats :
BMP, TIFF, JPEG
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